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Palestra | Test & Reliability Challenges in Advanced Technology Nodes

Professor visitante Victor Champac profere palestra no dia 13 de novembro

31/10/2019 - 17h48

agenda_Victor_Champac_PUCRS_PrIntNo dia 13 de novembro, às 19h, o professor visitante do National Institute or Astrophysics, Optics and Electronics, no México, Victor Champac profere a palestra Test & Reliability Challenges in Advanced Technology Nodes, integrando a agenda de eventos do Projeto Institucional de Internacionalização (PUCRS-PrInt).

O pesquisador abordará a tecnologia FinFET, adotada para aplicações de alto desempenho e economia de energia. Os circuitos baseados em FinFET apresentam um ganho dramático no desempenho em baixa tensão operacional. Desafios essenciais nas tarefas de design e teste serão abordados nesta palestra.

O encontro ocorre na sala 517, do Prédio 32 do Campus (Av. Ipiranga, 6681). A palestra será proferida em inglês, sem tradução. Não é necessário realizar inscrição prévia.

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Informações do evento

Data
13/11/2019
Local
Sala 517, do Prédio 32 do Campus (Av. Ipiranga, 6681 - Porto Alegre/RS)
Horário
19:00

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